Программируемый тестер для цифровых ИС

Схема предоставляет возможность автоматического, непосредственного и основательного тестирования логических элементов малой степени интеграции, инверсных триггерных схем и т. д. А также счетчиков среднего уровня интеграции, регистров-защелок, регистров сдвига и т. д. Схема посылает входные данные для испытываемого прибора (DUT — Device Under Test) по 9 проводам и получает данные по 6 проводам.

Когда переключатель "TEST SWITCH" замкнут и находится в нижнем по схеме положении, двоичный счетчик IC7—1С8, который включает входные провода испытываемого прибора, возвращается в исходное состояние и срабатывает триггер, который включает светодиод "GO / NO GO" (Работает/Не работает). После возвращения переключателя "TEST SWITCH" в исходное верхнее по схеме положение запускается счетчик по всем 256 входным состояниям. Во время подсчета данные в проводах выхода будут сравниваться с данными запоминающего устройства на микросхемах IC9—IC14.

Если встречается несоответствие, то триггер "GO/NO GO" сбрасывается на этом месте счетчика, вход сброса триггера тактового генератора устанавливается на низкий уровень и следующий подсчет подавляется до тех пор, пока снова не будет нажат переключатель "TEST SWITCH". Если светодиод "GO/NO GO" продолжает светиться, то деталь выдержала тест. Для программирования переключатель "PROGRAM SWITCH" должен быть нажат во время тестирования заведомо хорошего прибора.